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RFID测试技术交流研讨会邀请函


举办时间:2016-7-12 到 2016-7-12    举办地址:深圳中航城格兰云天大酒店26楼云河厅

作者:千兆科科技 来源:RFID世界网 2016-06-27 08:42:11

摘要:奥地利CISC半导体公司与深圳市千兆科科技有限公司在中国首次举办RFID测试技术交流研讨会,诚挚的邀请您及您同事、朋友参加我们的RFID技术交流研讨会。

关键词:RFID[224篇]  测试技术[0篇]  研讨会[31篇]  邀请函[21篇]  

尊敬的客户:

  奥地利CISC半导体公司与深圳市千兆科科技有限公司在中国首次举办RFID测试技术交流研讨会,诚挚的邀请您及您同事、朋友参加我们的RFID技术交流研讨会。

  CISC是欧洲著名的聚焦于汽车、RFID及NFC系统设计、建模、仿真及测量技术的厂家,也是RFID、NFC及非接卡测试测量方案的国际领导者。此次有幸邀请CISC的首席技术官Josef Preishuber-Pflügl先生进行全天关于RFID标准及测试的演讲及技术交流,内容涵盖了UHF、HF/NFC的标签、芯片及读写器。

  时间:2016年7月12日星期二 9:00~16:30

  地点:深圳市深南中路3024号深圳中航城格兰云天大酒店26楼云河厅

  (罗宝线华强路B出口)

RFID测试技术交流研讨会邀请函

  联系人:罗海涛 电话:13923483903 Email:terry.luo@giga-science.com

  请将参与人数、姓名及联系方式发至以上邮箱或电话告知,以便安排午餐。

  研讨会议程

9:00

签到

9:30

欢迎致辞

9:40

UHF RFID标准及测量方法
ISO/IEC 18000-63 Type C
EPCglobal Gen2V2
RAIN RFID

10:15

如何测量RFID标签的主要参数?

10:45

休息

11:00

如何测量RFID读写器的主要参数?
为实际应用选择读写器及标签

12:00

午餐

13:00

UHF RFID实际应用案例

14:30

休息

14:45

HF/NFC标准及测试

15:15

NFC互操作性测试
成功的应用及让客户满意

16:30

技术互动

  演讲嘉宾介绍:

RFID测试技术交流研讨会邀请函

  Josef Preishuber-Pflügl先生CISC半导体公司CTO,主导面向RFID性能一致性的ISO/IEC JTC1 SC31 WG4/SG6标准(兼容ISO/IEC 18046和ISO/IEC 18047)和RF通信 (RFID, RTLS, 安全) ISO / IEC JTC1 SC31 WG4标准制定工作,是奥地利标准化组织的信息技术和RFID技术相关标准召集人。此外,他是ISO/IEC 18000-63标准的项目编辑,负责Type C的修正草案,EPCglobal UHF Class 1Gen 2已采纳该ISO标准。他还在负责将ISO/IEC 18000-63REV1纳入EPC Gen2V2当中,现被称为RAIN RFID。自2008年起,他还是ETSI ERM TG34 for RFID机构的副主席。

  他带领CISC积极加入EPCglobal。在2004年,他在EPCglobal曾担任SB JRG和HACET等分支机构的联合主席。目前,他是美国GS1 EPCglobal下面UHF空中接口小组的联席主席,负责空中接口标准和一致性测试标准定制。



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