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中科国技将在RFID世界大会全面展示高速可靠的标签性能一致性检测方案


作者:连横 来源:RFID世界网 2017-03-15 08:37:34

摘要:在3月29-30日苏州举办的2017RFID世界网大会上,北京中科国技信息系统有限公司大客户经理李哲先生将以《标签性能的一致性解析》为主题,着重分析RFID 800/900MHz标签性能的差异造成的识读距离的变化,以及对实际RFID应用的影响,并给出高速可靠的标签性能一致性检测方案,满足标签实际生产检测速度的要求,提高标签供应商的标签性能一致性以及800/900MHz RFID系统应用的稳定性。

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  随着全球800/900MHz RFID技术的飞速发展, 800/900MHz无源标签的全球年出货量已由09年的4亿片增长至2016年的约100亿片,随着各种RFID应用领域中标签使用量的增加,因标签之间的性能差异所造成的RFID应用问题也陆续浮现,越来越多的RFID应用方和标签供应商开始关注标签性能一致性检测。

  由于在标签生产中,产线设备稳定性、胶水质量、热压温度、热压压力等因素会使标签之间的性能出现差异,甚至会出现标签无法工作的情况。而目前通用的标签产线检测设备只能检测出标签是否能够正常工作,却无法检测出每枚标签之间性能的偏差值。一般生产线上的抽检也无法完全统计并筛选出性能偏差过大的标签,而且该方法测试速度慢,无法满足对标签生产速度上的要求。针对以上情况,该公司推出了高速可靠的标签性能一致性检测方案。

  该测试方案的特点是可以高速的检测出性能不一的弱标签,配合复合设备检测速度可达8万枚/小时,配合卷对卷机架速度能达到5万枚/小时,提高了用户的检测效率。除了速度快,该方案还可以显示每片标签的生产性能,并能形成详尽的检测报告。另外,也可用于多排标签的检测和厂家设备之间的集成测试。

中科国技将在RFID世界大会全面展示高速可靠的标签性能一致性检测方案

多排标签的测试

  记者了解到,在3月29-30日苏州举办的2017RFID世界网大会上,北京中科国技信息系统有限公司大客户经理李哲先生将以《标签性能的一致性解析》为主题,着重分析RFID 800/900MHz标签性能的差异造成的识读距离的变化,以及对实际RFID应用的影响,并给出高速可靠的标签性能一致性检测方案,满足标签实际生产检测速度的要求,提高标签供应商的标签性能一致性以及800/900MHz RFID系统应用的稳定性。

  李总称,RFID标签的性能一致性将越来越多的影响RFID行业的推广,美国奥本大学RFID实验室已经率先将标签性能一致性检测纳入标准实验室检测项目,中科国技/Voyantic愿持续提供国际领先的检测解决方案,为更多的RFID从业者提供检测服务。

  据悉,2017RFID世界网大会将邀请400余家RFID行业产业链各环节的优秀企业、行业权威专家、RFID终端用户代表共同参与,分享全球最近一年里最具代表性的RFID行业技术突破与RFID行业创新应用成功案例,邀请专家剖析行业发展方向,共同探索行业发展新模式。敬请关注!

  演讲人介绍:

中科国技将在RFID世界大会全面展示高速可靠的标签性能一致性检测方案

  李哲,2012年加入北京中科国技信息系统有限公司,现任中科国技大客户经理。一直致力于RFID应用产品选型以及项目设计,参与过人民币金库RFID管理项目,目前正在参与RFID国标安全性标准制定项目,与各大芯片厂家和RFID厂家均有合作交流,在RFID测试技术、RFID应用工程技术方面有深入的研究。

  (rfid世界网独家稿件,转载请注明来源作者!)



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